中圖儀器CEM3000低真空模式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。在工業(yè)領域展現(xiàn)出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學、生命科學、納米技術、能源等多個領域得到了廣泛應用。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專業(yè)用戶的調節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設定電鏡樣品倉內真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

性能特色

1、緊湊外型

CEM3000低真空模式掃描電鏡整機經(jīng)過深入優(yōu)化，在結構方面達到了優(yōu)尺寸利用率，確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約，無論是日常的工作桌面、還是狹小空間，CEM3000系列臺式掃描電鏡總能陪伴用戶出現(xiàn)在有需要的地方。

2、自動調節(jié)

用戶可借助自動調節(jié)功能，無需過多人工調節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

3、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。

4、高抗振防磁性能

該系列臺式電鏡采用特殊設計的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設計的高性能復合抗振系統(tǒng)來消除外界振動對電鏡的影響，即使是在高放大倍數(shù)下成像，用戶也不用擔心環(huán)境振動對電鏡產(chǎn)生的干擾。

5、選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶需求，可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設定電鏡工作時的倉內真空度(倉內真空度低可達100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求。

6、操縱手柄

操作手柄上集成了多個方向位移控制，自動調整及自動對焦、自動消像散等功能，可快速完成觀測位置調整及自動成像。

7、豐富的定制功能

根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動化的顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量等選配功能。

可根據(jù)用戶需求提供全自動軟件定制服務。

8、高精度樣品臺

該系列臺式電鏡采用全新設計的樣品臺，各自動軸均保證了動作精度和高重復性。

9、高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離，確保成像質量。

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動環(huán)境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應用場景

材料科學：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結構分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業(yè)質檢：錫球顆粒焊接質量、精密器件表面粗糙度檢測。

部分技術指標

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