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中圖儀器SuperViewW納米深度光學(xué)3D表面形狀輪廓顯微檢測(cè)儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SJ5800表面粗糙度輪廓檢測(cè)儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線(xiàn)度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析。

SJ5900中圖輪廓儀光學(xué)曲面測(cè)量?jī)x集成表面粗糙度和輪廓測(cè)量。儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線(xiàn)度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高穩(wěn)定性氣浮隔震系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)球面及非球面光學(xué)元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析。

中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓儀測(cè)量表面粗糙度的儀器采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高測(cè)量精度重復(fù)性和高粗糙度RMS重復(fù)性。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。

中圖儀器SJ5800系列生產(chǎn)配件粗糙度輪廓度檢測(cè)儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，輪廓和粗糙度一體測(cè)量，無(wú)需切換模塊。其強(qiáng)大的產(chǎn)品功能及高精度測(cè)量能力可以滿(mǎn)足發(fā)動(dòng)機(jī)關(guān)鍵零部件的輪廓尺寸測(cè)量需求。

SJ5700S標(biāo)準(zhǔn)型粗糙度輪廓儀采用高精度光柵測(cè)量系統(tǒng)、高精度研磨導(dǎo)軌、高性能非接觸直線(xiàn)電機(jī)、音圈電機(jī)測(cè)力系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)各種工件表面輪廓進(jìn)行測(cè)量和分析。PR型號(hào)共用主體，只需切換不同模塊，可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行輪廓形狀測(cè)量和微觀粗糙度測(cè)量。